激光測(cè)厚儀和超聲波測(cè)厚儀是兩種常用的非接觸式厚度測(cè)量設(shè)備，各有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)和適用場(chǎng)景，激光測(cè)厚儀基于光學(xué)原理，通過發(fā)射激光束并接收反射光信號(hào)來計(jì)算材料厚度，具有高精度（可達(dá)微米級(jí)）、快速響應(yīng)和適用于高反射率表面的特點(diǎn)，常用于金屬、玻璃、薄膜等材料的在線檢測(cè)，其對(duì)透明或半透明材料的測(cè)量效果較差，且易受環(huán)境光干擾。 ，超聲波測(cè)厚儀則利用超聲波在材料中的傳播時(shí)間差來測(cè)量厚度，適用于金屬、塑料、陶瓷等多種材料，尤其擅長測(cè)量多層結(jié)構(gòu)或內(nèi)部缺陷，其優(yōu)勢(shì)在于對(duì)材料表面粗糙度要求較低，且能測(cè)量非透明物體，但精度相對(duì)較低（通常為0.1毫米級(jí)），且需耦合劑（如凝膠）以確保信號(hào)傳輸，操作稍顯繁瑣。 ，綜合來看，激光測(cè)厚儀更適合高精度、高速度的工業(yè)場(chǎng)景，而超聲波測(cè)厚儀在復(fù)雜材質(zhì)或隱蔽性測(cè)量中表現(xiàn)更優(yōu)，用戶需根據(jù)材料特性、環(huán)境條件及精度需求選擇合適的設(shè)備。

激光測(cè)厚儀與超聲波測(cè)厚儀比較

激光測(cè)厚儀和超聲波測(cè)厚儀是兩種常見的厚度測(cè)量工具，它們各自有不同的工作原理、應(yīng)用場(chǎng)景和優(yōu)缺點(diǎn)。以下是這兩種測(cè)厚儀的詳細(xì)比較：

工作原理

• 激光測(cè)厚儀：主要運(yùn)用激光干涉原理實(shí)現(xiàn)測(cè)量，通過激光干涉條紋的掃描測(cè)量材料的厚度。
• 超聲波測(cè)厚儀：利用超聲波在物質(zhì)中傳播的特性測(cè)量材料的厚度，具體是通過超聲波發(fā)射頭產(chǎn)生的超聲波在材料內(nèi)部反射來測(cè)量厚度。

應(yīng)用場(chǎng)景

• 激光測(cè)厚儀：適用于機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀的測(cè)量，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量儀器，適用于測(cè)量產(chǎn)品的厚度。
• 超聲波測(cè)厚儀：廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等領(lǐng)域，用于測(cè)量材料及物體的厚度，如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料。

優(yōu)點(diǎn)

• 激光測(cè)厚儀：
  • 非接觸式測(cè)量，不會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成損傷。
  • 測(cè)量精度高，適合動(dòng)態(tài)測(cè)量。
  • 操作簡便，適用于各種材料的厚度測(cè)量。
• 超聲波測(cè)厚儀：
  • 小型、輕便、測(cè)量速度快、精度高。
  • 電池供電，便于攜帶和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
  • 容器內(nèi)積累污垢后不影響測(cè)量精度。
  • 可以測(cè)量多種材料的厚度，包括金屬、塑料、陶瓷、玻璃等。

缺點(diǎn)

• 激光測(cè)厚儀：
  • 成本較高，設(shè)備復(fù)雜。
  • 對(duì)環(huán)境要求較高，如光線、灰塵等可能影響測(cè)量精度。
  • 不適用于某些特殊材料的厚度測(cè)量。
• 超聲波測(cè)厚儀：
  • 需要與被測(cè)物體接觸，可能會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成輕微損傷。
  • 對(duì)于多層材料的測(cè)量，可能會(huì)受到涂層的影響。
  • 需要根據(jù)被測(cè)材料的聲速進(jìn)行校準(zhǔn)。

特殊功能

• 激光測(cè)厚儀：利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測(cè)量產(chǎn)品的厚度。
• 超聲波測(cè)厚儀：具有自動(dòng)測(cè)量驗(yàn)證系統(tǒng)(AMVS)，可以排除涂層的影響，確保測(cè)量精度。

總結(jié)

激光測(cè)厚儀和超聲波測(cè)厚儀各有優(yōu)缺點(diǎn)，選擇哪種測(cè)厚儀取決于具體的測(cè)量需求和應(yīng)用場(chǎng)景。激光測(cè)厚儀適合非接觸式、高精度的動(dòng)態(tài)測(cè)量，而超聲波測(cè)厚儀則適合便攜式、快速測(cè)量的場(chǎng)合。

激光測(cè)厚儀適用材料范圍

超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)方法

激光測(cè)厚儀環(huán)境適應(yīng)性

超聲波測(cè)厚儀測(cè)量速度對(duì)比